器件局域失配相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

器件局域失配相关论文

28 nm工艺开发中的器件局域失配研究

在集成电路28 nm和14 nm等先进制造工艺开发中,采用纳米探针锁定失配器件后,依然无法通过物性分析找出失效原因,成为提升低压良率......

期刊

低压(Vmin)良率器件局域失配离子注入随机波动(RDF) 计算机辅助设计技术(TCAD)模拟麦克斯韦-玻耳兹曼分布

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