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堆叠硅互连相关论文
3D IC的EDA工具之路
IC垂直化能在不采用更小工艺尺度条件下,实现更高密度的电路。最近一篇文章(参考文献1)提出了有关3DIC的三个问题:什么是3DIC,它们......
期刊
3D IC
TSV
堆叠硅互连
片芯
EDA
垂直化
参考文献
一篇
Synopsys
存储器
用于2.5D封装技术的微凸点和硅通孔工艺
过去几十年里,微电子器件尺寸按照摩尔定律持续减小,已经进入到真正的纳米时代。尽管集成电路的特征尺寸已经进入20nm之下,但是在......
期刊
硅通孔
堆叠硅互连
微凸点
凸点下金属化层
封装
电沉积
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