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存储器內建自测试相关论文
嵌入式存储器三单元耦合故障测试算法的研究
集成电路产业进入深亚微米阶段,芯片规模急剧增大,对于数据信息的巨大存储需求使得嵌入式存储器在片上系统(SOC)中的集成度越来越......
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存储器內建自测试
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一种Mbist新型算法March 3CL的设计
制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的......
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