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彩色缺陷图像相关论文

IC真实缺陷的边界提取和缺陷尺寸与形状的表征

为了对 IC制造中真实多余物缺陷进行分类与识别 ,IC多余物缺陷的特征提取是非常重要的一步 .文中首先提出一种基于数学形态学的 IC......

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IC 彩色缺陷图像边界提取形状分析缺陷尺寸 IC defect color image boundary extraction size measur

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