本文基于成败型元件串联系统的成败型试验数据 ,研究成败型元件可靠性的点估计以及近似置信下限 .......

考虑成败型元件，其可靠性随储存时间的延长而有所改变．设在时刻ｔ＝０时元件可靠性为ｐ，在ｔ＝ｔｉ时元件可靠性为ａｉｐ，ａｉ已知，ｉ＝１，２，…，ｐ未知．假设在ｔ＝ｔｉ时进行Ｎｉ次试验，对每次......

本文对单个成败型元件,当试验数由n增加为n+k,而成功数亦相应地由s增加为s+k时,所得的可靠性置信下限的变化情况以及试验次数由n增......

设有由Ｋ个成败型元件Ａ１，Ａ２，…，Ａｋ组成的串联系统，设Ａ１，Ａ２，…，Ａｋ之间有相依关系，要Ａ１成功的条件下Ａ２才可以试验，在Ａ１，Ａ２，都成功的条件下Ａ３才可以试验，…在Ａ１，Ａ２…，Ａｋ－１都成功的条件......