截面样品相关论文
透射电镜(TEM)截面样品的制备质量在TEM显微分析中十分重要.离子减薄是制备透射电镜截面样品的一种有效方法,而离子减薄前的预减薄......
作者以碳纳米管在硅基芯片上的集成作为研究对象，分析如何用FIB制备碳纳米管复合材料的截面样品。作者通过透射电镜的分析(EFTEM等)......
铁电钛酸锶钡(BaSr(BSTO)薄膜材料具有很好的可调性,在微电子工业有广阔的应用前景.本文采用脉冲激光沉积(PLD)技术在(001)LaAlO单......
ＹＢＣＯ薄膜截面样品的高分辨电子显微镜（ＸＨＲＥＭ）研究已有报导［１，２］。它能给出薄膜与衬底之间的界面结构，薄膜的取向和缺陷等结构特征，为制备高质量的薄膜......
截面样品的制备是采用透射电镜(TEM)观察薄膜微结构的关键之一,该文分析了采用离子减薄法制备薄膜截面TEM样品成功率低的原因,并对......
目前,氩离子束抛光制备截面样品凭借其易于获得大面积平整表面以及适用范围广等优势被人们广泛采用。本文以单晶硅片为典型样品,通......
本文根据电子全息的成像原理,分析了在测量La0.5Ca0.5MnO3（LCMO）平均内势的实验中,出现全息相位图中样品两部分的相位分别高于和低于......
热浸镀渗铝钢透射电镜制样较困难,本文介绍了借助拷贝纸制备热浸镀渗铝钢透射电镜制样技术.......
针对脆性材料截面透射电镜样品制样难的问题,详细介绍一种改进的离子减薄法制备脆性材料截面TEM样品的方法,即先制备层叠矩形薄片,......
以硅基底上生长的薄膜样品为例，详细介绍了一种新的制备透射电镜截面样品的方法和步骤，即先层叠矩形薄片成块状，然后用低速锯切割得到......
