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扫描链部分输出抑制技术相关论文
IP核测试访问和扫描链低功耗测试方法研究与实现
随着半导体工艺技术的不断进步,集成电路遵循摩尔定律发展,因此电路规模和复杂度均有逐年提高的趋势。面对电路设计上的这些挑战,S......
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IP核测试
IEEE Std 1500
WBR
低功耗测试
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