探针测试卡相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

探针测试卡相关论文

晶圆探针测试（Probe）

晶圆探针测试（Probe）是集成电路生产中的重要一环。它不仅是节约废芯片封装成本的一种方法，现今已成为工艺控制、成品率管理、产品质......

期刊

晶圆探针测试探针测试环境探针测试台探针测试卡探针测试机探针测试辅助工艺探针测试软件

探针卡在芯片产业化中的应用分析

芯片产业化过程中,涉及到大量探针卡的应用,探针卡对芯片测试非常重要;根据不同的标准对探针及探针卡进行分类;针对不同应用环境,......

期刊

探针探针测试卡芯片测试 wafer

看过本文同时还关注