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介绍了ＦＴ－ＩＲ测量技术在半导体材料中的应用。对Ｓｉ、ＧａＡｓ等材料的试样制备、杂质缺陷的测量及光谱研究进行了全面报道。大量实验结果表明，该技术......
系统研究了金属和非金属氧化物及其混合物的低温远红外辐射性能。结果表明,氧化铝、氧化钛、氧化锆、氧化硅、莫来石、高岭土和绢......
对不同掺Ｓｂ，Ｃｕ杂质浓度锗晶体２．５～２５μｍ红外波段透射谱线测试结果进行了分析研究。目的是根据半导体物理学理论及实验结果，判断掺Ｓｂ、Ｃｕ杂质对锗晶体......
一、目前在工、农业生产中广泛推广应用的远红外加热干燥技术,其实质是高辐射率的热辐射加热干燥。通过提高辐射源的辐射率,实现......
