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基于最佳交换递减的芯核测试链平衡划分
满足TAM宽度约束的芯核测试链平衡划分,可以降低SoC测试应用时间和存储开销。针对测试链平衡划分问题,建议了一种改进的求解方案。建......
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系统芯片测试应用时间最小化技术研究
超大规模集成(VLSI)电路产品的开发流程主要包括设计、制造、测试和封装四个步骤。测试是芯片产品规模化生产的重要环节,其目标是......
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