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最高结温分布相关论文

失配状态对GaN HEMT器件性能影响的研究

失配状态会使GaN HEMT器件的输出功率、效率等偏离设计的额定值,通过EMMI和红外测试系统验证了失配状态对GaN HEMT器件性能的影响.......

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氮化镓高电子迁移率晶体管失配微光显微镜红外测试电致发光最高结温分布温升

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