测试向量生成器相关论文
分析了CMOS集成电路的功耗来源,介绍了CMOS集成电路的低功耗测试向量生成器的电路结构.为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率......
提出了一种针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法。测试向量生成器（TPG）采用伪穷举法来生成测试向量,输出响应分析器（ORA）采用多......
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于......
为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般......
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种......
为了解决内建自测试技术(Built-in-self Test, BIST)在深亚微米工艺下所产生的高功耗问题,本文基于单跳变测试(Single Change Inpu......
