测试码生成相关论文
该论文的主要工作是提出并实现一具可测性综合工具.首先,该论文介绍和分析了目前国际上集成电路可测性设计技术发展状况.据此,提出......
本文给出了一种适合于级敏扫描方法（ＬＳＳＤ）的伪穷尽测试集成生成方法。通过测试码生成电路中增加状态跳变控制电路，使得只需要一个初状态就......
MOS逻辑门电路的功率损耗与其门电路的输出翻转成正比。在测试过程中 ,输出节点反转速率远高于正常使用时 ,很容易造成电路损坏。......
在本文中，我们给出了一种用线性码构造伪穷尽测试集的测试码生成方法。这种方法在减小测试时间方面较以往的方法又进了一步。实验结......
