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潜在关键路径集合相关论文

电路老化中考虑路径相关性的关键门识别方法

65nm及以下工艺,负偏置温度不稳定性（NBTI）是限制电路生命周期,导致电路老化甚至失效的最主要因素。本文提出了基于NBTI的时序分析框......

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负偏置温度不稳定性老化潜在关键路径集合路径相关性关键门 NBTI aging potential critical path set path c

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