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热电损伤相关论文

漏极注入HPM诱发的nMOSFET热电损伤机理

研究了nMOSFET漏极注入HPM诱发的器件热电损伤机理.建立了nMOSFET在HPM作用下的二维电热模型,获得了器件内部电场、电流密度以及温......

期刊

金属-氧化物-半导体场效应晶体管高功率微波热电损伤熔丝 nMOSFET HPM damage mechanism resistor refuse

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