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缓冲层陷阱相关论文
基于凹槽结构抑制AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌效应
基于双脉冲技术,研究了GaN缓冲层陷阱对AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管电流崩塌效应的影响.结果表明,栅边缘漏侧的电场峰值使得沟道......
期刊
ALGAN/GAN
高电子迁移率晶体管
电流崩塌效应
缓冲层陷阱
AlGaN/GaN
high electron mobility transistor
cur
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