老炼筛选相关论文
芯片产品的质量与可靠性高低直接影响MCM/HIC的性能和可靠性。本文介绍了裸芯片技术、裸芯片质量与可靠性保障的主要内容和芯片产......
摘 要：晶体管经过功率老炼后，有些电参数会出现漂移，有些较大的漂移会严重影响晶体管的性能。本文主要介绍晶体管功率老炼的原理，发生......
针对某系列机载转速扭矩传感器高温老炼筛选完全依靠人工完成的问题,通过需求分析,开展了机载传感器老炼过程自动检测仪研制.经过......
该文从统计计算的角度出发,基于文[2]提出的系统可靠性综合评估方法,改进了系统可靠性综合评估算法;并从实际需要出发,研究了不完......
本文主要讲叙了电子元器件的失效机理和失效模式，据此介绍了当前相应的老炼方法，并阐述了老炼方法的实现。......
为保证航天任务中短波红外线阵探测（SWIR）的可靠性与稳定性，本文针对Xenics公司的商用短波红外线阵探测器，设计了可同时进行10片探测器......
本文提出了一种基于阿伦尼斯加速模型的老炼筛选加速方法，在元器件失效机理不变的情况下，进一步加大应力，缩短筛选时间。通过理论分析......
将含有早期故障的产品销售出厂,会严重地影响产品的使用可靠性乃至企业的信誉.如何把产品的早期故障排除在出厂之前,是生产企业非......
提出了一种可以在试验台上进行无条件的筛选、或对已装机而又存在某种隐患的功率管进行老炼筛选的方法，并介绍了如何进行老炼筛选应......
随着半导体技术的飞速发展，市场的需求不断地将产品的性能推到了其技术极限，集成电路可靠性试验的重要性逐渐显现。老炼筛选试验作为......
老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效......
