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零位及零位走动量检测,是光学瞄具生产和日常使用的重要检测项目,往往作为瞄具质量与验收合格的关键考核参数。复杂战场环境和作战......
目前的商用自准直仪并不满足纳米光学测量仪(NOM)利用细光束进行测量的要求,大口径细光束模式下的自准直测量系统存在各种误差.为......
为了满足自准直系统的高精度要求,同时扩展其适用范围,以便更好地应用于科学研究,在光学自准直原理的基础上,针对大口径细光束的自......