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薄栅MOS结构相关论文

利用FN振荡电流测量薄栅MOS结构栅氧化层中隧穿电子的有效质量

给出了一种利用FN振荡电流的极值，测量电子在薄栅MOS结构的氧化层中的平增有效质量方法，利用波的干涉方法来处理电了隧穿势垒的过程，......

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栅氧化层 FN振荡电流有效质量场效应晶体管隧穿电子薄栅MOS结构 effective mass fieldeffect transistor tunne

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