路径约减相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

路径约减相关论文

基于逻辑门类型的老化路径约减算法

随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小,电路可靠性问题日益严重,而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出.由于实际电路大多比较复......

期刊

老化预测关键路径路径约减电路可靠性 Aging prediction Critical path Path reduction Circuit re

数字集成电路老化故障预测和老化监测技术研究

随着半导体工艺技术的发展,晶体管尺寸的快速缩减导致老化退化加剧,尤其是NBTI引起的老化现象。它已成为导致老化现象的首要因素,......

学位

老化预测 NBTI 路径约减环形振荡器片上监测

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