透过表面绝缘层相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

透过表面绝缘层相关论文

用扫描电子显微镜透视半导体和集成电路

用普通扫描电子显微镜 (ＳＥＭ)只能观测样品的表面形貌 ,不能观测到隐藏在表面绝缘层下面的半导体材料和集成电路的微结构。在普通的ＳＥＭ中......

期刊

扫描电子显微镜透视半导体材料集成电路表面形貌微结构透过表面绝缘层观测样品材料缺陷检测仪改装

透绝缘层内窥透视集成电路法中Lock-in的应用

提出一种新的在扫描电子显微镜中非接触无损透过半导体和集成电路表面绝缘层显微内窥透视检测掩盖在其绝缘层下面的半导体的缺陷和......

期刊

扫描电子显微镜透过表面绝缘层非接触无损显微内窥透视检测法半导体和集成电路微结构和缺陷锁相放大器

看过本文同时还关注