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金属-铁电-绝缘层-半导体相关论文

用于非破坏性读出铁电存储器的MFIS结构的机理研究

分析了MFIS FET的工作机理以及影响MFIS电容的存储窗口特性的因素,提出用存储窗口与铁电薄膜正、负矫顽电压的差值来评价存储窗口......

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铁电存储器 MFIS结构金属-铁电-绝缘层-半导体场效应晶体管非破坏性读出工作机理 MFIS FET NDRO FeRAM

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