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静态电流失效相关论文

0．13μmDSP芯片静态电流测试失效分析研究

静态电流（IDDQ）测试是一种很灵敏且具有成本效益的集成电路测试技术，针对0.13μm某种DSP芯片在量产初期所遇到的IDDQ测试失效情况，利用......

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静态电流失效激光束诱导电阻值变化电压对比离子注入成品率 IDDQ failure OBIRCH voltage contrast ion im

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