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Cu双晶相关论文

疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核

采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究.结果表明,形变带中墙结构的间距从形成......

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Cu双晶位错组态裂纹形变带 copper bicrystal dislocation pattern crack deformation band

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