IC晶片相关论文
IC晶片图像检测包括特征尺寸测量、缺陷检测(DI)以及目检(VI),依靠人眼加放大镜的检测方式受到很大挑战且存在很多不足之处,已经不......
本文来源于广东省2004年科技计划项目“基于数字图像处理的IC晶片显微自动检测系统”(2004A10403008),项目采用数字图像处理技术对IC......
针对IC晶片导线特征检测中的难点,介绍一种基于图像处理技术的导线特征分析和缺陷检测方法,把由局部缺陷引起的线路短路、开路故障......
IC晶片制造过程存在多种致命缺陷,致使芯片失效,导致成品率下降。冗余物缺陷是影响IC晶片成品率下降的重要原因,主要造成电路短路......
针对具有重复图案阵列的IC晶片结构特征,提出了一种基于旋转不变子空间技术(ESPRIT)算法的自比较模板匹配缺陷检测方法。应用ESPRI......
IC晶片AOI(Automated Optical Inspection,自动光学检测)系统的研究,需要嵌入式技术、光学技术、数字图像处理、机器视觉技术等多......
随着IC集成度的提高,芯片加工工艺日趋复杂,人们对集成电路品质的越来越重视,以及技术、成本等诸多因素的影响,使得IC检测成为集成电路......
随着ULSI/VLSI集成电路要求的特征图形尺寸越来越小,缺陷密度越来越低,IC制造中的各种缺陷发生的愈加频繁,而目前集成电路生产工艺......
嵌入式IC晶片视觉检测技术的研究以广东省2004年度科技计划项目“基于数字图像处理的IC晶片显微自动检测系统”(2004A10403008)为......