Laplace缺陷谱（LDS）方法相关硕士博士期刊学术论文

杂质和缺陷一直是半导体材料的重要研究课题。n型混晶材料的DX中心由于其特异的性质如持久光电导（PPC）效应等，更引起了人们的兴趣。至......