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Mosaic模型相关论文

薄膜材料研究中的XRD技术

晶格参数、应力、应变和位错密度是薄膜材料的几个重要的物理量,X射线衍射(XRD)为此提供了便捷而无损的检测手段.分别从以上几个方......

期刊

X射线衍射晶格参数应力应变位错密度 Mosaic模型

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