随着集成电路深亚微米制造和设计技术迅速发展,系统级芯片(SoC)技术的应用大大降低了昂贵的设计和制造成本,但对于测试来说却变得......

测试调度是一种能有效减少片上系统（system-on-chip,SoC）测试耗时（test application time,TAT）以降低测试成本的经典技术.然而,随着功......

功耗约束下的SoC核流水测试可避免过高功耗毁坏待测芯片,对SoC核的流水测试进行调度可合理地分配测试资源、减少测试时间.以进程代......

深亚微米工艺下IC规模和复杂度的日益增加，向SoC测试提出了严峻的挑战。现有的外部测试设备ATE在存储容量、测试通道数等测试资源方......

为进一步减少片上系统（System-on-Chip,SoC）测试耗时、降低测试成本,本文结合异步时钟测试机制,提出一种基于聚类的测试调度方法.该......