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TaN薄膜电阻器相关论文
CAS玻璃釉对TaN薄膜电阻器功率影响研究
采用反应直流磁控溅射法在镍锌铁氧体基片上制备的TaN薄膜电阻器,由于镍锌铁氧体基片表面平整性差,散热性能低,制得的电阻器功率为......
期刊
镍锌铁氧体基片
TaN薄膜电阻器
CAS玻璃釉
功率
Ni-Zn ferrite substrate TaN thin film resistors CAS g
AlN薄膜对TaN薄膜电阻器功率影响研究
利用直流磁控溅射,在镍锌铁氧体基片上制作的TaN薄膜电阻器,受到铁氧体表面及内部结构特性差且导热系数低的影响,功率密度只能达到......
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功率密度
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