晶元测试相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

晶元测试相关论文

一种提高多存储单元内建自测试效率的电路设计

存储单元内建自测试技术(MBIST),可以很方便的通过很少的信号反映被测存储单元的结果.但是SOC芯片上可能会有许多不同类型的存储器......

会议

存储单元测试冗余地址并行测试测试时间测试效率电路设计晶元测试

用于晶元及封装测试的DC-DC内建可测性设计

针对单片DC-DC变换器进行了内建可测性设计。通过控制外围引脚使芯片进入一种特殊的测试状态,利用引脚复用技术,实现对基准电压、......

期刊

DC-DC变换器内建可测性设计晶元测试封装测试

看过本文同时还关注