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用多片具有不同金属钛膜厚度和充氚量的氚钛片对两种单晶硅基PN结型器件进行了辐照，在线测量了它们的电输出性能并进行了定性分析。......
制备了多个不同厚度金属钛膜吸附不同量^3H的氚钛片，利用这些源片辐照硅基半导体器件，测试并分析了它们的电学输出性能。结果表明，这......
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