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本文通过Kramers-Kronig方程将半导体的折射率与其吸收系数联系起来,从而将对折射率的讨论转为对吸收系数的讨论。通过理论分析,将......
介绍X光激光薄膜锗靶的制备工艺,在厚度为90nm和formvar膜上,采用磁控溅射技术沉积30~60nm厚的锗膜,对锗膜的应力进行了初步的测试与分析,制得的薄膜经干涉......