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椭偏光谱法表征单层nc-Si薄膜中晶粒的高度和体积比
椭偏光谱法表征单层nc-Si薄膜中晶粒的高度和体积比
来源 :第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:abcoabco1
【摘 要】
:
nc-Si材料在光电子领域、微纳电子学领域具有广泛的应用前景。含有nc-Si的薄膜的表征通常采用透射电镜(TEM)截面制样的方法,不仅测试样品制备方法复杂,而且测试周期较长。本文
【作 者】
:
方忠慧
张贤高
陈坤基
马忠元
江小帆
黄信凡
【机 构】
:
固体微结构物理国家重点实验室,南大学物理系,江苏南京 210093
【出 处】
:
第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会
【发表日期】
:
2010年期
【关键词】
:
光谱法
表征
单层
薄膜
晶粒
样品制备方法
透射电镜
纳电子学
电子领域
测试周期
体积比
制样
截面
材料
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nc-Si材料在光电子领域、微纳电子学领域具有广泛的应用前景。含有nc-Si的薄膜的表征通常采用透射电镜(TEM)截面制样的方法,不仅测试样品制备方法复杂,而且测试周期较长。本文介绍了椭偏光谱法表征单层nc-Si薄膜中晶粒的高度和体积比。
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