大口径凸非球面零件检测的新思路

来源 :中国光学学会2004年学术大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:rural1
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要对于大口径的凸非球面,传统的检测方法是使用背部检验。在分析各种传统检测方法的基础上,本文研究了一种新的检测方法--使用二元光学元件检测大口径凸非球面,最后给出了两种方法的设计实例,所研究的凸曲面为一扁球面,口径为500mm,实现了新型光学元件--二元光学在凸曲面检验中的应用。
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