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大口径凸非球面零件检测的新思路
大口径凸非球面零件检测的新思路
来源 :中国光学学会2004年学术大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:rural1
【摘 要】
:
要对于大口径的凸非球面,传统的检测方法是使用背部检验。在分析各种传统检测方法的基础上,本文研究了一种新的检测方法--使用二元光学元件检测大口径凸非球面,最后给出了两种方
【作 者】
:
常军
翁志成
张新
丛小杰
姜会林
【机 构】
:
长春光学精密机械与物理研究所国家应用光学重点实验室,长春130022
【出 处】
:
中国光学学会2004年学术大会
【发表日期】
:
2004年期
【关键词】
:
大口径
凸非球面
零件检测
检测方法
光学元件
二元光学
凸曲面
元件检测
设计实例
应用
基础
背部
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要对于大口径的凸非球面,传统的检测方法是使用背部检验。在分析各种传统检测方法的基础上,本文研究了一种新的检测方法--使用二元光学元件检测大口径凸非球面,最后给出了两种方法的设计实例,所研究的凸曲面为一扁球面,口径为500mm,实现了新型光学元件--二元光学在凸曲面检验中的应用。
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