类信息提取技术研究

来源 :中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wangshaohua11
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本文以面向对象程序中的类为研究对象,利用.NET平台提供的类库,提取.exe或.d11中与测试有关的信息,从而更加有效地对软件进行测试.
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高加速寿命试验(HALT)是一种新兴技术,它使用在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节.本文从研究开发HALT的背景出发,详细探讨了HALT对应力曲线和强度曲线的影响.HALT的归属、HALT的优缺点和目的、HALT与传统试验、HALT与可靠性预计、HALT与HASS的关系、高加速基本原理、HALT的基本过程、HALT试验项目、HALT试验系统、HALT应注意的问题和确保HALT成功的
在分析电磁兼容性研究内容基础上,论述在系统和设备中电磁兼容性设计要点及注意问题,重点分析电磁兼容性测量及方舱电磁屏蔽效能要求、测量.
本文介绍了塑封半导体器件常用的加速寿命试验方法,包括高温贮存、温度-湿度-偏置、高压蒸煮及强加速湿热等试验.文中着重介绍了高温贮存及温度-湿度-偏置试验的加速因子模型,并举例计算.并对几种加速寿命试验的加速性及再现性进行了比较.
本文从传统预计方法(GJB/Z299B)的目的及预计方法出发,分析传统预计方法不准确的原因,然后提出HALT/HASS和POF两种可参考的解决传统预计方法不准确的方法.
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