【摘 要】
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X射线可以展示物体内部结构和缺陷分布，因此广泛用于工业和医学的无损检测领域。利用计算机提取X射线图像中的有力的缺陷特征，可以实现缺陷的自动识别，避免在批量和实时无损检测时由疲劳程度和工作经验等主观因素引起误判和漏判。本文从特征的提取域角度出发，综述了X射线图像缺陷识别中常用的缺陷特征，并简单介绍了特征的筛选方法，为在不同用途要求下选取有效的缺陷特征提供参考。
【机 构】
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重庆大学 光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心,重庆 400044 重庆大学光电工程学院 重庆 400044
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X射线可以展示物体内部结构和缺陷分布，因此广泛用于工业和医学的无损检测领域。利用计算机提取X射线图像中的有力的缺陷特征，可以实现缺陷的自动识别，避免在批量和实时无损检测时由疲劳程度和工作经验等主观因素引起误判和漏判。本文从特征的提取域角度出发，综述了X射线图像缺陷识别中常用的缺陷特征，并简单介绍了特征的筛选方法，为在不同用途要求下选取有效的缺陷特征提供参考。
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