良率(yield)是反应集成电路产品成品率的一项关键参数,在实际生产中由于晶圆边缘的平整度等与晶圆中心存在很大的差异,导致晶圆边缘有效芯片(die)的良率很容易受多种因素的影
由于图像所包含的纹理类别数目常常是未知的,因此无监督的纹理分类相比于有监督的纹理分类更具有实际的应用价值.从聚类的本质定义出发,采用了一种基于类内、类间距离比值的聚类有效性判别函数RII.为了减弱随着聚类数目的递增对判别函数带来的影响,分别采用最大类内距和最小类间距替代类内、类间距离之和作为判别因子.由于FCM的收敛速度与初始类别数目有一定的相关性,再引入收敛速度作为聚类有效性函数的惩罚因子,给出