ExB剪切流对低n模数剥离模不稳定性的影响

来源 :中国物理学会2016年秋季会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hguhV
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  准稳态高约束模式(QH模)及其伴随着的边缘谐振荡现象(EHO)是当前托卡马克等离子体模拟和实验研究的前沿热点之一。我们利用BOUT++框架下约化的非线性三场磁流体模型,采取圆截面JET类型的平衡,对ExB剪切流进行了数值模拟研究。模拟结果验证了低n剥离模不稳定性主要由平行方向的电流梯度驱动,而强压强梯度导致高n气球模不稳定性的产生。在低密度条件下,ExB剪切流解稳低n模数剥离模;在高密度状态下,ExB剪切流表现出解稳高n气球模的特性。利用DIII-D装置上测得的剪切剖面,随着剪切流的增强,中等模数(n~20)的不稳定性率先被激发产生,最不稳定的模式向低n方向偏移同时变得更不稳定,谱宽度变窄。
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等离子体中的离子引出是一个涉及到多物理场耦合的复杂的物理过程。本文基于描述非平衡等离子体输运特性的数学物理模型1推导获得了描述离子引出过程中粒子运动规律的一维电子平衡流体模型。该模型不考虑引出过程中粒子间的碰撞以及在极板表面的溅射过程,并且假定电子处于热平衡状态,而着重研究离子在电场中的运动规律。
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托卡马克等离子体破裂诱发的halo电流对装置安全构成了威胁.EAST托卡马克同样会遇到破裂引起的电磁力问题,因此我们在偏滤器位置处安装了一系列罗氏线圈,测量发现破裂期间大量的halo电流(约40%的等离子体电流)流入到内部部件中.对于下偏滤器,DOME靶板位置承担着较多的halo电流;而对于上偏滤器(ITER-Like钨铜材料),相比较而言内外打击点靶板处受到更多的电流,电流的流动方向主要从外靶板
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电阻壁模被认为是导致反场箍缩和托卡马克装置上等离子体破裂的重要原因之一,为此我们使用NIMROD程序对KTX(Keda Torus eXperiment)反场箍缩磁约束聚变装置上的电阻壁模进行了数值研究。在数值模型中,采用直柱位形托卡马克平衡,通过与电阻壁模解析色散公式对比,验证了NIMROD电阻壁模计算结果的正确性和有效性,并在此基础上,计算了托卡马克环效应对电阻壁模的影响。
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