论文部分内容阅读
本文讨论了电子器件在外辐射照射下生存概率的计算问题，首先通过分布的假设检验来判断器件总体的失效分布类型，检验结果发现：当试验提供的样本数较少时，器件的失效可服从几种分布。为了选择最佳的失效分布，根据最大熵方法，初步选定了器件的失效分布函数，并计算分析了不同总剂量照射下器件的生存概率；针对试验样本量很少，依此估计器件总体均值、标准差并不可靠的情况，应用贝叶斯Bootstrap方法对总体失效均值、标准差的区间估计进行了仿真计算，在此基础上，再次应用最大熵原理，利用模拟退火仿真方法计算得到了总体的均值、标准差，从而确定了器件总体最优的失效分布，分析生存概率的结果表明，该方法确定的失效分布更符合物理实际。