缓冲层对Zn1-xMgxO薄膜电学特性的影响

来源 :第四届全国氧化锌学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:swb39274355
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
采用金属有机化合物气相沉积法(MOCVD)在硅和玻璃衬底上生长出了较高质量的Zn1-xMgxO薄膜。二乙基锌(DEZn)和二茂镁(cp2Mg)分别作为Zn源和Mg源,通过高纯A汽的携带输运进入反应室内,高纯氧气作为氧源直接通入反应室内。反应室内的加热系统分为两部分,一部分采用传统的加热丝加热,另一部分选用功率为1500W的高压卤钨灯作光源辅助,灯的强度是通过调节其输入功率来控制的。在MOCVD系统中引入光辅助系统,有利于提高有机源的分解率,并能够改善外延薄膜的质量。本文采用光辅助技术在相同生长条件下在硅和玻璃衬底上制备了三种Zn1-xMgxO薄膜样品。第一种是在衬底上直接生长的样品a,第一种是在具有40nmZnO缓冲层上生长的样品b,最后是在具有20nmMgO缓冲层上生长的样品c。通过低温光致发光、X射线衍和霍尔测试等初步研究了所制备的Zn1-xMbxO薄膜的性质。
其他文献
本文采用正交试验法对UV LIGA技术制作柔性电热微夹钳过程中的前烘时间、曝光时间、后烘温度以及后烘时间四个因素进行优化研究,详细讨论了四个因素对胶模质量的影响,最终得到
会议
在硅微纳加工技术中,几何约束下单晶硅应力非均匀氧化有着广泛应用,例如高深宽比AFM针尖锐化工艺;高精度纳米点、线及复杂结构制造工艺等。在微等离子体无掩模刻蚀加工研究中,等
本文给出了一种无催化剂直径可控制备小尺寸ZnO纳米线阵列的方法,提出在用自催化气一掖一固机制合成ZnO纳米线的过程中,Zn蒸气过饱和度是决定纳米线直径的关银因素。
ZnO作为一种多功能氧化物有着广泛的应用前景,例如其高达60meV的激子束缚能使其成为理想的半导体发光材料,同时其3.37eV的带隙与TiO2相近使其在的光催化应用方面也吸引了众多的
本文通过正交设计研究了多因素对直流反应磁控溅射ZnO:Ga薄膜光电性能的影响并且分析了不同参数的影响程度。
为探讨贫血对不同年龄儿童体格生长的影响,对1991~1997年在江苏省儿童保健研究中心接受健康检查的儿童进行了体格生长的回顾性调查。结果显示贫血组(以轻度贫血为主)小儿体重月增长速率在
近年来,有些报刊由于强调了铁的补血,锌的抗老防衰,钙的防骨质疏松症等作用,致使不少人未在医生的指导下而乱服上述微量元素,结果给机体带来了一定损害,值得提出一谈。 人的
随着纳米科技的飞速发展,纳米材料的应用领域正变得越来越广泛,与此同时纳米材料的生物安全性问题也越来越引起世界各国科学家的广泛关注。本文主要研究了ZnO纳米粒子对淡水中
随着我国高等教育事业的快速发展,财政拨款已不能满足教育事业发展对资金的需求。银行贷款解决了高校仅依靠财政拔款需要若干年后才能实现的规模扩张难题,促进了高等教育事业
ZnO是一种直接带隙的半导体材料,通过Mg的掺杂可调节其禁带宽度,从而使得MgxZn1-xO成为紫外探测器的重要候选材料。本文采用Mg0.2Zn0.8O陶瓷钯,通过脉冲激光沉积(PLD)法,在单晶Si