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采用粉末压片法制样,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对矿石样品中的Cu、Mo进行了快速测试。测试结果准确度与精密度都比较理想,符合DZ/T0130-2006规定的质量要求。本法快速、简便,满足对铜钼矿石样品的检测要求。