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利用SEM、AES、EDAX及微区X射线衍射等分析手段,系统研究显象管用阳极帽出现的辉斑缺陷,指出辉斑的组分为Ca、Si、Al、Fe、O等,组成为β-(Ca、Fe)O·SiO#-[2]、5CaO、2SiO#-[2]·9(Fe、Al)#-[2]O#-[3]等低熔共晶复合氧化物。实验揭示了辉斑出现的规律性,提供了消除辉斑的“二次氧化”法工艺。(本刊录)