时延测试在一款通用微处理器上的应用

来源 :第四届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:YANYUGUOHOU
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随着芯片制造工艺的发展和频率的提高,时延测试在微处理器测试中有着越来越重要的作用.本文介绍了一款通用微处理器上的时延测试,然后针对时延测试所引起的测试向量数的增加,介绍了一种测试向量集的优化流程,实验结果表明该优化流程将测试向量体积减小了35%.
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