时延测试相关论文
信令转接时延是交换设备性能测试指标中的一项，需借助模拟呼叫设备，搭建模拟自环测试环境，跟踪信令，采集统计数据，从而计算出结果。......
随着集成电路工艺特征尺寸不断缩小，芯片内部速度不断增加，时延缺陷(即影响电路定时行为但不改变电路在静态条件下的逻辑操作的缺陷)......
随着集成电路制造工艺的不断细化及芯片频率的不断提高，越来越多的跟时延相关的故障涌现出来。单纯的固定型故障(stuck-at)测试已经......
随着半导体工艺向超深亚微米推进,处理器的设计复杂度随之提高。这使得处理器的测试面临着越来越多的挑战,特别是处理器的时延测试......
目前智能测试仪表设计的一个方向是:多功能、高集成度。数据通信分析仪的设计也不例外。文中主要讨论了中低速多协议数据通信分析......
本文综述了近年来针对小时延缺陷的测试的主要研究成果，在深入分析小时延缺陷给时延测试带来的挑战的同时，主要介绍了三类针对小时廷......
随着芯片制造工艺的发展和频率的提高,时延测试在微处理器测试中有着越来越重要的作用.本文介绍了一款通用微处理器上的时延测试,......
该文以基于美国ATSC(AdvancedTelevisionSystemsCommittee)的A53标准的高清晰度电视信道接收芯片的设计为实例,对目前主流的各种可......
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路......
寄存器传输级(RTL)测试产生及时延测试是当今集成电路(IC)测试技术中亟待解决的问题和研究的热点.首先从IC逻辑测试的测试产生和IC......
随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路......
卫星导航信号发射通道的设备自身时延是星地组合时延的一个部分,卫星在地面测试中必须进行通道时延标定。针对导航卫星BOC（binary o......
随着芯片运行速度不断提髙,对串扰时延的测试已成为一个迫切需要解决的问题;文中提出一种面向多条攻击线的受害线上最大串扰噪声的......
针对冒险引起的测试质量评估误差,本文提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,......
随着特征尺寸进入纳米尺度，相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大，并可能使得电路在运行时失效．准确和快速地估计电路中的......
超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成......
随着深亚微米技术的不断发展和芯片运行速率的不断提高，串扰噪声问题越来越严重，对串扰时延测试已成为一个迫切的问题。在组合电路的......
时延性能是信息传输系统中的一项重要指标,时延以及时延抖动等性能会直接影响传输系统的性能。介绍了几种基于FPGA的时延测试方法,......
研究时延测试（应用）中的功耗问题，提出一种降低时延测试功耗的测试向量排序方法，该方法利用时延测试向量对之间的海明距离为测试向量对......
针对处理器的数据通路中的通路时延故障,提出一种基于指令集的处理器时延测试产生方法.对于每条指令提取出状态矩阵,并基于状态矩......
随着电网生产业务对传输通道可靠性要求的不断提高,电力保护业务要求通信系统具备高质量的传输通道。文章介绍了电力保护业务对光......
时延作为网络运行中的一种重要性能参数，越来越受到用户和网络运营商的关注，包括时分复用（TDM）网络和分组网络。介绍了100G OTN/WDM系......
在卫星导航系统中转台抛物面天线旋转关节的时延稳定性是一项非常关键的指标。依据转台抛物面天线旋转关节工作原理,提出了双路关......
选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的......
介绍了网络互联设备的时延测试方法，以及时延测试中被测设备的配置问题。通过实验，讨论了RFC2544中关于恒定比特率流量下时延测试方......
研究时延测试 (应用 )中的功耗问题 ,提出一种降低时延测试功耗的测试向量排序方法 .该方法利用时延测试向量对之间的海明距离为测......
针对传统电力数据中心传输时延测试方法链路利用性能较差的问题,提出一种基于SDN技术的电力数据中心传输时延测试方法,基于SDN技术......
飞速发展且日益成熟的网络协议技术由于支持业务灵活、建设方便快捷等优点,逐渐成为民航未来地空通信的发展方向。民航空中管制服......
针对时延测试功耗和测试费用较高的问题,提出一种低费用的轮流捕获时延测试方法。采用扫描阻塞技术,将被测电路中的所有扫描单元分......
介绍了用时间间隔测量仪测时延的方法，提出了切实可行的改善时间间隔测量仪测量结果的不确定度的方法，并给出了其在不同测试条件下的......
集成电路(Integrated Circuit，简称IC)测试是保证数字系统安全可靠工作的一个重要且必不可少的环节。随着电路规模的扩大和设计层次......
针对列车网络控制系统在列车运行中产生的时延问题,通过搭建列车网络控制系统时延测试模拟平台,研究列车通信过程中控制系统的时延......
集成电路(integrated circuit,IC)测试是保证数字IC产品安全可靠工作的一个必不可少的环节。随着电路规模的不断增大,大规模集成电......
在集成电路(IC)芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下,为尽量减少芯片制造中产生的故障导致信息系统失效,......
集成电路(IntegratedCircuit，IC)测试是集成电路生产的一个重要环节。随着超大规模集成电路的迅速发展，集成电路的工艺尺寸变得越来......
为了保证集成电路时序的正确性，在规定时间内得到正确的响应输出，需要对集成电路进行时延测试。随着集成电路制造工艺进入纳米级，电路......
测试能够有效地保证电路的可靠性,是集成电路产业链——设计、制造、测试、封装中必不可少的一个环节。随着半导体工业的发展,测试......
随着生产工艺的发展,超大规模集成电路特征尺寸逐步减小,出现了新型的缺陷类型。这些缺陷共同表现为使被测电路的时延发生变化。因......
