【摘 要】
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随着微电子器件的不断微小化,晶体材料表面的存在对材料的电学磁学性能的影响受到日益广泛的关注,亦有人提出能否将晶体表面所特有的电磁学特性应用于未来的器件开发当中[1].
【机 构】
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上海市闵行区东川路800号上海交通大学物理系,200240
【出 处】
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中国物理学会2012年秋季学术会议
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随着微电子器件的不断微小化,晶体材料表面的存在对材料的电学磁学性能的影响受到日益广泛的关注,亦有人提出能否将晶体表面所特有的电磁学特性应用于未来的器件开发当中[1].而另一方面,晶体表面降低了其中的电子空穴等载流子的空间自由度,引发出各种新奇的低维量子现象[2],吸引了众多的基础物理研究.不论应用还是基础研究,探测晶体表面的电输运特性都是一个极为有力的研究方法.基于此目的,本报告介绍我们近期开发的一套微区四探针表面输运测量系统.
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