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报道了X射线荧光光谱法测定纯铝、铝合金中Fe、Si、Cu、Ga、Mn、Zn、Ti、Mg和Cr等元素的分析方法.样品经车床或锉刀处理,峰值计数方式,大部分元素无需基体样正,样品分析元素的分析方法.样品经车床或锉刀处理,峰值计数方式,大部分元素无需基本校正,样品分析结果与电感耦合等离子体光谱法对照,结果一致.方法的相对标准偏差RSD<3﹪(n=7).