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对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素.在本文提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法,运用该算法无须搜索便可识别出时序电路中相当一部分不可测故障.针对ISCAS89电路的实验结果也验证了其有效性.
同步时序电路故障可测性研究
【摘 要】
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对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素.在本文提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法,运用该算法无须搜索便可识别出时序电路中相当一部分不可测故障.针对ISCAS89电路的实验结果也验证了其有效性.
【机 构】
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装甲兵工程学院信息工程系(北京)
【出 处】
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企业信息化高级论坛全国第12届CAD/CG学术会议
【发表日期】
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2002年12期
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