不可测故障相关论文
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障......
对时序电路的迭代逻辑阵列（ILA）施加组合ATPG（自动测试模式生成），可得到不可测故障识别的定理和条件，其条件针对故障电路给出。基于无故......
