【摘 要】
：
对电缆的剩余寿命进行评估是电缆寿命管理的关键环节,以往电缆寿命评估的方法当中比较有代表性的有阿伦提乌斯方法和维伯尔分布模型。本文对这两种方法进行了进一步的丰富和发展,特别是在阿伦提乌斯模型中的激活能确定以及应用维伯尔分布模型进行电缆寿命评估方面。最后以一个实际电缆的状态监测数据为基础,对简化的阿伦提乌斯模型进行仿真,说明本文提出的方法是非常有效的。
【机 构】
：
东北大学信息科学与工程学院 沈阳 110004 上海交通大学电子信息与电气工程学院电气工程系 上海
【出 处】
：
中国仪器仪表学会第九届青年学术会议
论文部分内容阅读
对电缆的剩余寿命进行评估是电缆寿命管理的关键环节,以往电缆寿命评估的方法当中比较有代表性的有阿伦提乌斯方法和维伯尔分布模型。本文对这两种方法进行了进一步的丰富和发展,特别是在阿伦提乌斯模型中的激活能确定以及应用维伯尔分布模型进行电缆寿命评估方面。最后以一个实际电缆的状态监测数据为基础,对简化的阿伦提乌斯模型进行仿真,说明本文提出的方法是非常有效的。
其他文献
提出了一种使用多级分类器级联结构的快速人脸检测方法。该方法首先利用积分图快速计算出检测所需简单特征；然后使用Adaboost算法从一个较大的特征集中选出少量关键的特征来构造出弱分类器,通过多个弱分类器组合成一个强分类器；最后通过构造一个多层级联分类器快速去除图像中的大部分非人脸区域,而在可能的目标区花费更多的计算。试验结果表明,该方法具有良好的性能,与其他检测算法相比大大提高了检测速度。
本文以基于模型的单目视觉位姿测量为应用背景,针对视觉位姿测量过程中目标区域特征不断变化的特点,提出了一种图像中点状目标中心的自适应、高精度定位方法。在分析各种目标中心定位方法适用条件的基础上,定义了表示目标区域内灰度分布均匀性和区域形状误差的目标区域特征,并根据这些目标区域特征自适应地选择最佳的目标定位方法。实验结果表明,该定位方法由于集成了各种中心定位方法的优点,其定位精度明显高于其它中心定位方
随着Internet的发展,网络应用也越来越多。各种不同的应用服务存在着使用同一个端口的可能性,通过端口号来控制应用存在着偏差。传统的防火墙只能对网络层或传输层进行包过滤控制,不能有效地对各种应用服务进行访问控制。本文在Linux的平台上,以Netfilter为框架,设计了一个应用层防火墙系统。
三维模型检索中的形状分布算法仅利用形状分布直方图之间的距离信息,从而导致检索精度的降低。为提高检索效率,本文在形状分布直方图的基础上,采用模糊C均值聚类(FCM)算法进行三维模型检索。首先提取模型采样点之间的距离信息,生成形状分布直方图；再利用模糊C均值聚类算法对模型形状分布直方图进行模糊聚类,当聚类目标函数值达到最小时认为获得较好的分类效果；最后输出查询模型所在分类作为检索结果。实验结果表明,应
本文介绍了一种基于C805IF320混合信号处理器的多路数据采集系统,在单总线上应用兼容IC协议的高精度AD转换器ADS1112实现了8路高精度数据的同步采集。系统采用高精度实时时钟芯片DS3231记录现场时钟信息,多片串行EEROM临时记录采集数据,采用无线数传模块与上位机通讯。系统结构紧凑,安装调试简单,便于工业现场环境应用。
介绍了一种基于PLC和DSP的细纱机控制系统。该系统针对细纱机控制系统的非线性与传统PID控制方法的不足,提出了一种基于RBF神经网络在线辨识的单神经元PID控制器对速度环进行调节的方法,以提高控制系统的性能。并且阐述了系统的硬件组成、功能及系统软件的设计方法。试验结果表明,系统的硬件和软件设计合理，其控制效果优于传统的PID控制器。
本文利用ANSYS软件和有限元分析方法,对铜和1Cr18Ni9不锈钢两种材料在均匀分布压力下的受力情况进行了模拟仿真,并据此设计了光纤Bragg光栅压力传感器。在0～40Mpa的测量范围内,分别对两种材料制作的光纤Bragg光栅传感器的压力特性进行测试,实验结果表明:相同的设计尺寸下,铜材料制作的光纤Bragg光栅压力传感器的灵敏度为0.0625nm/Mpa,不锈钢材料制作的光纤光栅压力传感器的灵
在碳黑/硅橡胶复合材料中加入纳米氧化铝,制成硅橡胶类纳米复合柔性压敏导电胶,并对其进行性能测试和结果分析。结果表明:在含10％碳黑的碳黑/硅橡胶复合材料中加入4.5％的AlO,可使碳黑均匀分散在硅橡胶中,从而改善压敏导电胶压阻特性,研发出具有良好的力学和电学性能柔性触觉传感器材料。
提出了一种基于触摸屏和三星S3C2410微处理器的嵌入式微型生化分析仪系统的设计,给出了该系统的硬件和软件设计方案。说明了基于ARM的控制系统硬件平台的组成,包括光谱信号采集、数据储存、温度测量及控制、人机接口、进样系统控制、光源控制和通讯等模块。并对系统的软件设计进行了描述。
基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。