论文部分内容阅读
在进行 AP1000 主管道焊接接头晶间腐蚀试验过程中,发现部分试件出现裂纹现象。为弄清该裂纹是否是由晶间腐蚀引起的,进行了一系列补充试验,并采用扫描电镜、能谱对焊缝界面及断口进行了表征分析,结果显示裂纹与晶间腐蚀无关。开裂现象可能与延伸率不够有关。通过分析,对ASTMA262E法的应用提出了一些建议。